Elektronenbeugung und -interferenz

Projektleitung und Mitarbeiter

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Forschungsbericht : 1994-1996

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Projektbeschreibung

Elektronenbeugungsdiagramme enthalten Information über feinere Kristallstrukturdetails als elektronenmikroskopische Hochauflösungsbilder. Zur Rekonstruktion der Objektwelle muß aber außer der Amplitude auch die Phase der Beugungsreflexe bekannt sein. Zur Vorbereitung der Phasenbestimmung wurde ein Silizium-Doppelkristall-Elektroneninterferometer mit der Elektronenbeugung im konvergenten Bündel kombiniert. Im entstandenen Beugungsdiagramm wurde ein Interferenzstreifensystem mit verschiedenen Streifenabständen und -orientierungen registriert. Die entsprechenden zweidimensionalen Simulationen des Interferenzmusters aufgrund der Vielstrahl-Bloch-Wellen-Theorie stimmen gut mit den experimentellen Ergebnissen überein. In den Reflexionen der Laue Zonen hoher Ordnung konnten ultrafeine Interferenzstreifen beobachtet werden. Das weitere Ziel ist die Bestimmung der Phaseninformation aus den genannten Beugungsreflexen, die uns zusammen mit der Amplitudeninformation eine Rekonstruktion der Objektwelle und eine verbesserte Bestimmung des Strukturpotentials erlauben sollte.

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